一、标准依据
DL/T 303-2014电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测（现行，试块规定见 3.4 条及附录 A、附录 B）
GB/T 19799.1无损检测 超声检测 1 号校准试块（校准试块其他制造要求）
JB/T 10061 / JB/T 10062 / JB/T 9214超声探伤仪、探头及系统性能规范
JB/T 8428无损检测 超声检测用试块 通用规范
二、试块分类
校准试块（附录 A）铝合金 · 与瓷声速相近
- 用途
- 探伤仪系统性能校准和检测校准
- 材质
- 用与瓷声速相近的铝合金材料加工制成
- 要求
- 尺寸精度符合标准要求并有出厂计量合格证书；其他制造要求符合 GB/T 19799.1
JYZ-G 瓷柱对比试块（附录 B）电瓷材料 · Φ120×200mm
- 材质
- 致密无缺陷电瓷柱，声速 ≥6300m/s，与支柱瓷绝缘子声学性能匹配
- 外形
- 标准直径 Φ120mm、长度 200mm 圆柱形瓷件
- 人工缺陷
- 内部预制环形等深模拟裂纹槽，槽宽 1.5mm，配套多组不同深度人工裂纹
- 用途
- 模拟瓷柱内部危险环向开裂缺陷；1:1 声程调扫描速度；校准爬波探头与瓷柱专用斜探头零点、折射角、灵敏度；缺陷定量对比分级
JYZ-BXⅠ 旋转校准试块同系列配套
- 用途
- 360° 旋转校准 Φ120 瓷柱探头的灵敏度与曲面耦合补偿
JYZ-BXⅡ 瓷套校准试块同系列配套
- 用途
- 大直径瓷套、套管探伤专用校准；用其中 5mm 深模拟缺陷制作爬波探头 DAC 曲线
三、JYZ 系列配套对照
| 型号 | 名称 | 用途 |
|---|---|---|
| JYZ-G | 瓷柱对比试块 | 模拟裂纹、缺陷定量（核心参考试块，附录 B） |
| JYZ-BXⅠ | 旋转校准试块 | 360° 校准 Φ120 瓷柱探头灵敏度、曲面耦合补偿 |
| JYZ-BXⅡ | 瓷套校准试块 | 大直径瓷套、套管探伤专用校准 |
四、检测方法要点（与试块配套）
| 项目 | 要求 |
|---|---|
| 检测部位 | 上、下瓷件端头与法兰胶装整个区域，重点是法兰口内外 3mm 与瓷体相交区域 |
| 爬波法 | 双晶爬波探头检测瓷绝缘子同侧表面和近表面缺陷；探头弧面直径等于或略大于瓷柱直径 |
| 小角度纵波法 | 小角度纵波斜探头检测对侧表面、近表面及内部缺陷 |
| DAC 曲线 | 用 JYZ-BXⅡ 试块中 5mm 深模拟缺陷制作爬波探头 DAC 曲线 |
| 灵敏度耦合补偿 | 实测瓷件声速 C，按（6700 − C）/100 × 2dB 设置耦合补偿 |
| 判定 | 缺陷反射波高于 DAC 曲线，或缺陷长度 ≥10mm，判为不合格 |
五、使用与维护
- 校准试块须有出厂计量合格证书，按周期检定；
- 瓷质试块脆性大，严禁磕碰、跌落，存放于专用缓冲托架；
- 每次检测前用试块校验探伤仪 + 探头整套系统的灵敏度与分辨力；
- 不同规格、批次瓷件探伤前应实测声速，据以确定检测灵敏度。
六、适用场景
- 电网变电站、换流站支柱瓷绝缘子、棒形瓷柱的在役超声波检测；
- 穿墙套管、瓷套管的在役检测（爬波法 + 双晶横波法）；
- 电力瓷件入网抽检与故障分析。